Які різні типи промислових інспекційних мікроскопів?
Промисловий інспекційний мікроскоп є широко використовуваним обладнанням для виявлення в сучасній галузі промислового контролю, яке в основному використовується для спостереження за мікроструктурою невеликих об'єктів, оцінки якості та виявлення дефектів. Відповідно до різних сценаріїв застосування та конкретних вимог промислові інспекційні мікроскопи можна розділити на різні типи обладнання. У цій статті ми познайомимося з кількома поширеними промисловими мікроскопами.
По-перше, є відеомікроскоп, для якого не потрібен окуляр, і його можна спостерігати безпосередньо через дисплей. Він не втомлюється під час спостереження, а відеомікроскоп має інтегрований корпус, який має переваги легкого переміщення, простого керування та широкого поля зору. Він широко використовується в електронних пристроях, пластикових деталях, інтегральних схемах, хімічних матеріалах, склокераміці та інших областях.
Далі йде інструментальний мікроскоп, який можна використовувати для вимірювання таких параметрів, як розмір і кут заготовок у діапазоні вимірювань. Це багатофункціональний пристрій, який широко використовується в таких додатках, як перевірка друкованих плат, перевірка обладнання та тестування вимірювань.
Крім того, існує також диференціальний інтерференційний мікроскоп DIC, оснащений професійним ахроматичним об’єктивом із великим робочим відстанню з плоским полем, що використовує технологію DIC та спеціально розроблене коаксіальне джерело світла. Все поле зору має рівномірні інтерференційні кольори, чіткі зображення та високу контрастність. Невеликий перепад висоти на поверхні досліджуваного об'єкта створює помітний ефект рельєфу, за яким можна чітко визначити тріщини, виступи, частинки та отвори.
Промислові інспекційні мікроскопи, як одне з важливих пристроїв у сфері сучасного промислового контролю, мають багату різноманітність типів і сценаріїв застосування. У процесі фактичного придбання та використання необхідно вибрати відповідні типи обладнання та коефіцієнти збільшення на основі конкретних потреб і характеристик зразка, щоб досягти високого -рівневого виявлення та ефекту спостереження.
