Метод освітлення темного поля для спостереження частинок за допомогою мікроскопа
1. Напівпрозоре освітлення
Біологічні мікроскопи часто використовуються для спостереження за прозорими зразками та потребують освітлення прохідним світлом. Існує два типи способів освітлення
(1) Джерело світла критичного освітлення відображається на площині об’єкта після проходження крізь збиральну лінзу, як показано на малюнку 5. Якщо не враховувати втрату світлової енергії, яскравість зображення джерела світла буде такою ж, як яскравість самого джерела світла. Таким чином, цей спосіб еквівалентний розміщенню джерела світла на площині предмета. Очевидно, що при критичному освітленні, якщо поверхнева яскравість джерела світла є нерівномірною або демонструє очевидні дрібні структури, такі як нитки, це серйозно вплине на ефект мікроскопічного спостереження, що є недоліком критичного освітлення. Засіб полягає в тому, щоб розташувати молочно-білі та теплопоглинаючі кольорові фільтри перед джерелом світла, щоб зробити освітлення рівномірнішим і уникнути тривалого -опромінення джерелом світла, яке може пошкодити об’єкт, що перевіряється. При освітленні прохідним світлом кут апертури пучка зображення лінзи об'єктива визначається кутом апертури сфокусованого дзеркального квадратного променя. Щоб повністю використовувати числову апертуру об’єктива, фокусуюча лінза повинна мати таку саму або трохи більшу числову апертуру, як і об’єктив.
(2) Недолік нерівномірного освітлення поверхні при критичному освітленні Кольського освітлення можна усунути в Кольському освітленні. Додайте допоміжний прожектор 2 між джерелом світла 1 і прожектором 5, як показано на малюнку 6. Можна побачити, що оскільки допоміжна конденсорна лінза 2 (також відома як друшляк), рівномірно освітлена джерелом світла, не використовується безпосередньо для зображення зразка 6, поле зору (зразок) лінзи об’єктива рівномірно освітлюється.
2. Падаюче світлове освітлення
При спостереженні непрозорих об'єктів, таких як металеві шліфувальні пластини, через металографічний мікроскоп освітлення часто використовується збоку або зверху. У цей момент на поверхні досліджуваного об’єкта немає скляного покриття, і формування зображення зразка залежить від відбитого або розсіяного світла, що потрапляє в лінзу об’єктива. Як показано на малюнку 7.
3. Метод освітлення для спостереження частинок з використанням темного поля зору
Метод темного поля можна використовувати для спостереження наддрібних частинок. Так-так звані надтонкі частинки стосуються тих крихітних частинок, розмір яких менший за межу роздільної здатності мікроскопа. Принцип освітлення темного поля полягає в тому, щоб запобігти потраплянню основного світла освітлення в лінзу об’єктива, і лише світло, розсіяне частинками, може потрапити в лінзу об’єктива для отримання зображення. Тому зображення яскравих частинок дається на темному фоні, і хоча фон поля зору темний, контраст хороший, що може покращити роздільну здатність.
