Основні компоненти та функції лазерних скануючих конфокальних мікроскопів
1. Освітлювальний отвір
Функція: Змусьте лазер пройти через отвір для освітлення, щоб утворити точкове джерело світла, яке має унікальні переваги, такі як сильна спрямованість, невелика розбіжність, висока яскравість, висока просторова та часова когерентність і збудження плоскої поляризації. І він утворює конфокальний пристрій з отвором детектора та фокальною площиною.
2. Розділювач променя
Функція: відокремлення флуоресценції збудження зразка від іншого несигнального світла.
3. Об'єктив
4. Фокальна площина
Функція: лазерне точкове джерело світла фокусується на об’єкті у фокальній площині, спонукаючи флуоресцентно позначений зразок випромінювати флуоресценцію та формувати фокальне пляма. Світлова пляма обробляється серією пристроїв, таких як лінза об’єктива та розсіювач променя, і фокусується у двох місцях: отвір освітлення та отвір детектора. З цього випливає значення конфокального.
5. Отвір детектора
Функція: грає як просторовий фільтр. *Для максимального блокування розсіяного світла в несфокусованій площині та розсіяного світла за межами нефокальної плями на сфокусованій площині, щоб гарантувати, що всі сигнали флуоресценції, отримані точкою детектора, надходять із фокального положення плями зразка. Таким чином, пляма, сфокусована дифракцією на зразку, і пляма зображення обскури детектора містять однакову інформацію (дво-точкове сполучення).
6. Фотоелектронний помножувач (детектор)
Функція: прийом світлових сигналів через отвори, перетворення їх на електричні сигнали та передача їх на комп’ютер, що забезпечує чітке зображення всієї фокальної площини на екрані.
7. Лазер: розвиток технології конфокальної мікроскопії не можна відокремити від швидкого розвитку лазерів. Ми можемо вибрати різні лазери відповідно до наших дослідницьких потреб. як ArUV (351,364 нм), HeCd (442 нм), AR (457 488 514 нм), ArKr (488 568 647 нм) Kr (568 нм), HeNe (543 нм), HeNe (633 нм) Зачекайте.
8. Кілька каналів флуоресценції: Наявність кількох каналів флуоресценції для досягнення кількох міток зразків одночасно.
