Застосування металографічних мікроскопів у різноманітних галузях промисловості
Металографічні мікроскопи вперше виникли з металографії. Їх основна мета — спостерігати за металографічними структурами, що робить їх спеціалізованими інструментами, призначеними виключно для дослідження металографічних структур непрозорих об’єктів, таких як метали та мінерали. Ці непрозорі об'єкти не можна спостерігати під звичайним світловим мікроскопом; отже, ключова відмінність між металографічними мікроскопами та звичайними мікроскопами полягає в тому, що перші використовують для освітлення відбите світло, тоді як другі покладаються на прохідне світло.
Металографічні мікроскопи характеризуються чудовою стабільністю, чітким зображенням, високою роздільною здатністю та великим рівним полем зору. Окрім мікроскопічного спостереження через окуляр, вони також можуть відображати-динамічні зображення в реальному часі на екранах комп’ютера (або цифрової камери). Необхідні зображення можна редагувати, зберігати та друкувати з основними застосуваннями в таких сферах, як апаратне забезпечення, металографічні секції, компоненти IC та виробництво LCD/LED.
Металографічні мікроскопи оснащені п’ятьма типами об’єктивів: EPI Brightfield Fluorescence, BD Brightfield/Darkfield, SLWD (Super Long Working Distance), ELWD (Enhanced Long Working Distance) і лінзи з коригуючим коміром. У апаратній промисловості для спостереження за апаратними частинами із сильним відображенням можна вибрати об’єктиви BD Brightfield/Darkfield. Наприклад, у індустрії РК-дисплеїв під час спостереження та вимірювання електропровідних частинок металографічні мікроскопи можуть бути оснащені DIC (диференційним інтерференційним контрастом) для отримання більш-тривимірного зображення. DIC використовує поляризаційну технологію-парні поляризаційні фільтри утворюють поляризовану мікроскопічну систему спостереження. Базуючись на властивостях подвійного променезаломлення об’єктів, він спрямовано змінює оптичний шлях. Однак поляризація має значення лише тоді, коли використовується в поєднанні з DIC; це не служить жодній практичній меті. Коли металографічні мікроскопи використовуються для вимірювання й аналізу об’єктів мікро-розміру, таких як компоненти IC і металографічні секції, можна використовувати інтелектуальне програмне забезпечення Iview-DIMS.
Це програмне забезпечення забезпечує високу точність, ефективно зменшуючи людські помилки вимірювання. Його легко освоїти та використовувати, що дозволяє точно вимірювати та аналізувати відповідні розміри, такі як точки, лінії, дуги, радіуси, діаметри та кути. Він також підтримує легке захоплення зображень вимірювань і налаштування різноманітних звітів про випробування.
