Принцип роботи трансмісійного електронного мікроскопа
Трансмісійний електронний мікроскоп (ТЕМ) дозволяє спостерігати тонкі структури розміром менше {{0}}.2 мкм, які неможливо чітко побачити під оптичним мікроскопом. Ці структури називають субмікроскопічними структурами або ультраструктурами. Щоб чітко бачити ці структури, необхідно вибрати джерело світла з меншою довжиною хвилі, щоб покращити роздільну здатність мікроскопа. У 1932 році Руска винайшов просвічуючий електронний мікроскоп, використовуючи електронний промінь як джерело світла. Довжина хвилі електронного пучка набагато коротша за видиме та ультрафіолетове світло, а довжина хвилі електронного пучка обернено пропорційна кореню квадратному з напруги випущеного електронного пучка, тобто чим вища напруга, тим коротша довжина хвилі. В даний час роздільна здатність ПЕМ може досягати 0,2 нм.
Принцип роботи трансмісійного електронного мікроскопа полягає в тому, що електронний промінь, випромінюваний електронною гарматою, проходить через конденсор уздовж оптичної осі корпусу дзеркала у вакуумному каналі та збирається в різкий, яскравий і однорідний промінь світла через конденсатор, який опромінюється на зразок всередині камери для зразків; Електронний промінь, що проходить через зразок, несе внутрішню структурну інформацію зразка. Кількість електронів, що проходять через щільну частину зразка, менша, тоді як кількість електронів, що проходять через розріджену частину, більша; Після фокусування та первинного збільшення через лінзу об’єктива електронний промінь потрапляє в нижню проміжну лінзу та перше та друге проекційні дзеркала для повного збільшення зображення. Нарешті, збільшене електронне зображення проектується на флуоресцентний екран у кімнаті для спостереження; Флуоресцентний екран перетворює електронні зображення на зображення у видимому світлі, щоб користувачі могли їх спостерігати. У цьому розділі будуть представлені основні структури та принципи кожної системи окремо.
