Які речовини в основному використовують для спостереження за допомогою скануючих електронних мікроскопів?
Скануючий електронний мікроскоп (SEM) був винайдений у 1965 році і в основному використовується для досліджень клітинної біології. Він в основному використовує зображення вторинного електронного сигналу для спостереження за морфологією поверхні зразка, тобто для сканування зразка використовується надзвичайно вузький електронний промінь. Взаємодія зі зразком викликає різні ефекти, головним з яких є вторинні електрони зразка.
Вторинні електрони можуть створити збільшене топографічне зображення поверхні зразка. Це зображення встановлюється в часовій послідовності, коли зразок сканується, тобто збільшене зображення отримується за допомогою точкового зображення.
Скануюча електронна мікроскопія (SEM) — це метод спостереження мікроскопічної морфології між трансмісійною електронною мікроскопією та оптичною мікроскопією. Він може безпосередньо використовувати властивості матеріалів поверхні зразків для мікроскопічних зображень. Переваги скануючого електронного мікроскопа: ① Він має високе збільшення, яке безперервно регулюється від 20 до 200,000 разів; ② Він має велику глибину різкості, велике поле зору та тривимірне зображення та може безпосередньо спостерігати за нерівними поверхнями різних зразків. Тонка структура; ③ Підготовка зразка проста. Сучасні скануючі електронні мікроскопи оснащені пристроями енергетичного спектрометра рентгенівського випромінювання, які можуть одночасно спостерігати морфологію мікроструктури та аналіз компонентів мікрообластей (тобто SEM-EDS), тому сьогодні це один із найважливіших інструментів наукових досліджень.
⑴ Біологія: насіння, пилок, бактерії...
⑵Медицина: клітини крові, віруси...
⑶Тварини: товстий кишечник, ворсинки, клітини, волокна...
⑷Матеріали [1]: кераміка, полімери, порошки, метали, металеві включення, епоксидна смола...
⑸Хімія, фізика, геологія, металургія, мінерали, шлам (бацили), машини, двигуни та провідні зразки, такі як напівпровідники (IC, вимірювання ширини лінії, поперечний переріз, спостереження за структурою...), електронні матеріали тощо.
