Назвіть основні характеристики металографічного мікроскопа
1. Металографічний мікроскоп спеціально розроблений для всіх завдань перевірки та вимірювання під час контролю металів і промислових матеріалів.
2. Головним чином забезпечує конфігурацію спостереження за відображенням для виконання планового виявлення та аналізу металографічних зразків.
3. Загальний оптичний шлях підтримує поле зору діаметром 20 мм.
4. Ручний поворотний столик з чотирма отворами.
5. Забезпечте галогенне освітлення за допомогою вбудованої галогенної лампи 35 Вт або зовнішнього трансформатора 100 Вт.
6. Може забезпечити методи спостереження яскравого поля та поляризованого світла.
7. Можна поєднувати з об’єктивами Leica різної кратності. Може бути оснащений стаціонарним столиком для зразків або мобільним столиком із трьох панелей. Металографічний мікроскоп може бути оснащений камерами, цифровими фотоапаратами та іншими пристроями для отримання зображень для збереження зображень, і може використовуватися разом із аналітичним програмним забезпеченням для аналізу зображень.
Металографічний мікроскоп із повністю автоматичним диференційним інтерференційним фазовим контрастом (DIC) і дзеркалом повного поля 1,25x може виявляти навіть дрібні деталі. Зображення високої чіткості надглибокого поля дозволяє чітко бачити дрібні деталі, відповідаючи вимогам високої якості зображення для виявлення.
Скануюча електронна мікроскопія така ж проста в експлуатації, як і цифрова камера, зберігаючи високу роздільну здатність і глибину різкості, легко отримуючи зображення великого збільшення. Завдяки потужним електронним оптичним властивостям скануючої електронної мікроскопії він допомагає прискорити дослідження в науках про життя та аналіз дефектів оброблених матеріалів.
Цим пристроєм легко керувати такими базовими аспектами, як автофокусування, автоматичний коефіцієнт контрастності та автоматичне регулювання яскравості, без необхідності спеціальної підготовки до обробки зразка, як-от покриття або сушіння. Він має два режими роботи: високий і низький вакуум, а також три налаштування напруги прискорення, що підходить для різних сфер застосування. Усе це можна запрограмувати у попередньо встановлених файлах рішень, зберігаючи високу роздільну здатність і велику глибину різкості, легко отримуючи зображення великого збільшення. Він має потужну електронну оптику скануючої електронної мікроскопії.
Скануючий електронний мікроскоп випромінює електронний промінь (діаметром близько 50 мкм) з електронної гармати, який збирається системою магнітних лінз під дією прискорювальної напруги, утворюючи електронний промінь діаметром 5 нм. Він фокусується на поверхні зразка, і під дією відхиляючої котушки між другою фокусуючою лінзою та лінзою об’єктива електронний промінь зазнає ґратчастого сканування на зразку. Електрони взаємодіють із зразком, створюючи сигнальні електрони, які збираються детектором і перетворюються на фотони. Потім вони посилюються підсилювачем електричного сигналу та виводяться на дисплей.
До складу скануючого електронного мікроскопа входять електронно-оптична система, система збору сигналів, система відображення і реєстрації зображення, вакуумна система. Ця частина в основному складається з електронної гармати, електромагнітної лінзи, скануючої котушки та камери для зразків. Електронна гармата забезпечує стабільне джерело електронів, формуючи електронний пучок. Як правило, використовується електронна гармата з вольфрамовим катодом, і вольфрамовий дріт діаметром близько 0,1 мм згинається у формі шпильки, утворюючи V-подібний наконечник із радіусом приблизно 100 мкм. Коли через нитку проходить струм, вона нагрівається, а коли досягає робочої температури, випускає електрони. Висока напруга прикладається між катодом і анодом, і ці електрони прискорюються до анода, утворюючи електронний промінь. Під дією електричного поля високої напруги пучок електронів прискорюється через отвір осі анода і потрапляє в електромагнітне поле.
