Пропускаючий тип мікроскопа, що супроводжує інструменти для металографічного аналізу
Металографічні аналітичні інструменти, що підтримують освітлення мікроскопа, зазвичай поділяються на дві категорії: "прохідне освітлення" та "спадне освітлення". Перше відноситься до прозорих або напівпрозорих об'єктів, що досліджуються, переважна більшість біологічних мікроскопів відноситься до цього типу освітлення; останнє стосується непрозорих об’єктів, що підлягають дослідженню, джерела світла зверху, також відомого як «відбиваюче освітлення». В основному використовується з металургійною мікроскопією або флуоресцентною мікроскопією.
1. Пропускаюче освітлення
Біологічний мікроскоп використовується для спостереження за прозорими зразками, для освітлення яких потрібне прохідне світло. Існує два типи підсвічування
(1) Критичне освітлення (Критичне освітлення) Джерело світла проходить через дзеркало конденсора і відображається на площині предмета. Якщо не враховувати втрату світлової енергії, яскравість зображення джерела світла така ж, як і самого джерела світла, тому цей метод еквівалентний розміщенню джерела світла на площині об’єкта. Очевидно, що при критичному освітленні, якщо поверхнева яскравість джерела світла нерівномірна, або явно показує невеликі структури, такі як нитки тощо, тоді необхідно серйозно вплинути на ефект спостереження мікроскопа, що є недоліком критичного освітлення. . Засіб полягає в тому, щоб перед джерелом світла поставити опалесцентний і теплопоглинаючий фільтри, щоб освітлення стало більш рівномірним і щоб уникнути тривалого опромінення джерела світла і пошкодження об'єкта, що досліджується. Освітлення прохідним світлом, промінь зображення об’єктива кута апертури, кут апертури променя визначається дзеркалом прожектора як квадрат, щоб повною мірою використовувати числову апертуру об’єктива, дзеркало прожектора повинно мати таку саму, як об’єктив, або трохи більшу числову апертуру.
(2) Освітлення Cora. Недолік нерівномірного освітлення поверхні об’єкта при критичному освітленні можна усунути за допомогою освітлення Cora. У джерелі світла 1 і фокусуючій лінзі 5 між додаванням додаткової фокусуючої лінзи 2. видно, оскільки не безпосередньо джерело світла, але джерело світла рівномірно освітлюється допоміжною фокусуючою лінзою 2 (також відомою як дзеркало Cora). ) зображення в зразку 6, щоб поле зору лінзи об’єктива (зразка) отримувало рівномірне освітлення.
2. Падаюче освітлення
При спостереженні в металургійний мікроскоп непрозорого предмета, наприклад металевого абразивного диска, освітлення часто застосовують збоку або зверху. У цей час поверхня об’єкта, який слід спостерігати, на поверхні скла не покривається, зображення зразка створюється шляхом потрапляння в об’єктив відбитого або розсіяного світла. Як показано на малюнку 7.
3. Освітлювальний метод спостереження частинок з темним полем зору
Метод темного поля можна використовувати для спостереження надмікроскопічної плазми. Так звана супермікроскопічна плазма — це крихітна плазма, розмір якої менший за межу роздільної здатності мікроскопа. Принцип темнопольного освітлення полягає в тому, що промені основного освітлення не потрапляють в лінзу об'єктива, а тільки промені, розсіяні частками, здатні потрапити в зображення лінзи об'єктива. У результаті зображення яскравих частинок виходить на темному фоні, а поле зору темне, але контраст хороший, що дозволяє покращити роздільну здатність.
Темнопольне освітлення поділяється на однонаправлене і двонаправлене.
(1) Однонаправлене освітлення темного поля Діаграма односпрямованого освітлення темного поля. На малюнку видно світло від освітлювача 2, через непрозорий шматок зразка 1 після відбиття, основне світло не потрапляє в лінзу об’єктива 3, а в лінзу об’єктива потрапляє в основному через частинки або нерівності тонкої частини розсіяне світло. Очевидно, що це односпрямоване освітлення темного поля, наявність і рух частинок є ефективним для спостереження, але не ефективним для відтворення деталей об’єкта, тобто існує явище «спотворення».
(2) Двостороннє освітлення темного поля Двостороннє освітлення темного поля може усунути недоліки одностороннього спотворення. Перед звичайним трилінзовим конденсором, розміщення кільцевої діафрагми, ви можете досягти двостороннього освітлення темного поля. Між останньою частиною конденсора і носієм скло занурене в рідину, а між покривним склом і об'єктивом сухе. Таким чином, металографічні аналітичні інструменти, що підтримують пропускання мікроскопа та падіння освітлення, через кільцевий промінь конденсорної лінзи, покривне скло в повному відображенні та не можуть увійти в лінзу об’єктива, утворюючи схему, як показано на малюнку. В лінзу об’єктива потрапляє лише світло, розсіяне частинками на зразку, утворюючи двостороннє освітлення темного поля. Щодо інших суміжних інструментів, таких як аналізатор заліза, аналізатор вуглецю та кремнію тощо, зверніться до технічного відділу Tong Pu.
