Принципова схема принципу формування зображення мікроскопа
Я знаю, що окуляр діє як збільшувальне скло, але зображення, утворене лупою, знаходиться з того самого боку, що й об’єкт. Після того, як об’єктив мікроскопа збільшить об’єкт, отримане зображення має бути в тубусі мікроскопа. Якщо принцип роботи окуляра такий самий, як і лупи, то яким буде його зображення? Замість масштабування в напрямку, протилежному людському оку (той самий бік об’єкта), як ви знаєте, як побачити подвійне збільшене зображення? Принцип роботи мікроскопа зображено на малюнку. Фокусна відстань лінзи об'єктива коротка, а фокусна відстань окуляра велика. Об’єкт формує перевернуте дійсне зображення А через лінзу об’єктива. «B» — зображення розташоване в фокальній точці окуляра (всередині тубуса лінзи), його також можна розглядати як об’єкт окуляра, і воно стає вертикальним віртуальним зображенням після проходження через окуляр; воно все ще таке ж, як і лупа, а зображення об’єкта знаходиться з того самого боку).
Я знаю, що окуляр діє як збільшувальне скло, але зображення, утворене лупою, знаходиться з того самого боку, що й об’єкт. Після того, як об’єктив мікроскопа збільшить об’єкт, отримане зображення має бути в тубусі мікроскопа. Якщо принцип роботи окуляра такий самий, як і лупи, то яким буде його зображення? Замість масштабування в напрямку, протилежному людському оку (той самий бік об’єкта), як ви знаєте, як побачити подвійне збільшене зображення? Принцип роботи мікроскопа зображено на малюнку. Фокусна відстань лінзи об'єктива коротка, а фокусна відстань окуляра велика. Об’єкт формує перевернуте дійсне зображення А через лінзу об’єктива. «B» — зображення розташоване в фокальній точці окуляра (всередині тубуса лінзи), його також можна розглядати як об’єкт окуляра, і воно стає вертикальним віртуальним зображенням після проходження через окуляр; воно все ще таке ж, як і лупа, а зображення об’єкта знаходиться з того самого боку).
Як працюють AFM
Основний принцип АСМ подібний до СТМ. В AFM кінчик голки на еластичному кантилевері, який дуже чутливий до слабких сил, використовується для сканування поверхні зразка растровим способом. Коли відстань між кінчиком голки та поверхнею зразка дуже близька, існує дуже слабка сила (10-12~10-6N) між атомами на кінчику кінчика голки та атомами на поверхню зразка. У цей час мікрокантилевер зазнає невеликої пружної деформації. Сила F між наконечником і зразком і деформація кантилевера відповідають закону Гука: F=-k*x, де k є силовою константою кантилевера. Таким чином, поки вимірюється деформація мікрокантилевера, можна отримати силу між наконечником і зразком. Сила та відстань між кінчиком голки та зразком мають сильну залежність, тому петля зворотного зв’язку використовується для підтримки постійності сили між кінчиком голки та зразком під час процесу сканування, тобто зберігається деформація кантилевера. постійним, і кінчик голки буде слідувати зразку. Підйоми та спуски поверхні рухаються вгору та вниз, а траєкторію руху кінчика голки вгору та вниз можна записати, щоб отримати інформацію про рельєф поверхні зразка. Цей робочий режим називається «Режим постійної сили» і є найпоширенішим методом сканування.
АСМ-зображення також можна отримати за допомогою «Режиму постійної висоти», тобто під час сканування X, Y, без використання петлі зворотного зв’язку, зберігаючи відстань між кінчиком голки та зразком постійною, шляхом вимірювання напрямку Z мікрокантилевера. ступінь деформації зображення. Цей метод не використовує цикл зворотного зв’язку та може використовувати вищу швидкість сканування. Зазвичай він використовується частіше при спостереженні за атомами та молекулами, але він не підходить для зразків із відносно великими флуктуаціями поверхні.
