Вимірювальні елементи товщиномірів покриттів
Покривні шари, які ми створюємо для захисту поверхонь і оздоблення матеріалів, таких як покриття, покриття, клейкі шари, хімічно сформовані плівки тощо, у відповідних національних і міжнародних стандартах називаються покриттями або покриттями.
Вимірювання покриття та облицювання стало важливою частиною перевірки якості в переробній промисловості та інженерії поверхонь, а також є важливим засобом відповідності продукції високим стандартам якості. Для того, щоб зробити продукцію інтернаціоналізованою, існують чіткі вимоги та правила щодо вимірювання товщини покриття в експортних товарах моєї країни та проектах, пов’язаних із зарубіжжям.
Методи вимірювання товщини покриття в основному включають: вимірювання покриття клином, вимірювання покриття оптичної секції, вимірювання електролітичного покриття, метод вимірювання різниці товщини, вимірювання покриття методом зважування, вимірювання покриття методом рентгенівської флуоресценції, вимірювання покриття методом зворотного розсіювання, ємнісне покриття вимірювання, магнітний метод вимірювання та метод вимірювання вихровими струмами для вимірювання товщини тощо. Серед цих методів перші п’ять – це руйнівний контроль, методи вимірювання є громіздкими та повільними, і більшість із них придатні для перевірки зразків. З розвитком науки й техніки, особливо в останні роки, після впровадження однокристальної мікрокомп’ютерної технології в нашому підрозділі, серії магнітних вимірювальних покриттів MC-2000 і вимірювача товщини покриття MCW-2000B методу вихрових струмів зробили великий крок у напрямку мініатюрних, інтелектуальних, багатофункціональних, високоточних і практичних. Роздільна здатність вимірювання досягла 1 мікрона, а точність може досягати 1 відсотка, що було значно покращено. Товщиномір покриття має широку сферу застосування, широкий діапазон вимірювання, простоту експлуатації та низьку ціну. Це найбільш широко використовуваний вимірювач товщини покриття в промисловості та наукових дослідженнях.
