Основні компоненти та функції лазерного конфокального мікроскопа
1. Освітлювальна дірка
Функція: лазер проходить через отвір для освітлення, утворюючи точкове джерело світла. Точкове джерело світла має унікальні переваги, такі як сильна спрямованість джерела світла, мала розбіжність, висока яскравість, висока просторова та часова когерентність і збудження плоскої поляризації. І формують конфокальний пристрій з детектором-точкою і фокальною площиною.
2. Розділювач променя
Функція: відокремлення флуоресценції збудження зразка від іншого несигнального світла.
3. Об'єктив
4. Фокальна площина
Функція: лазерне точкове джерело світла освітлює об’єкт і фокусує його на фокальній площині, стимулюючи флуоресцентно помічений зразок випромінювати флуоресценцію, утворюючи фокальне пляма. Світлова пляма обробляється серією пристроїв, таких як лінза об’єктива та розсіювач променя, і фокусується на точці освітлення та точці детектора відповідно. Звідси походить значення конфокального.
5. Отвір детектора
Функція: діє як просторовий фільтр. Збільште перешкоду від розсіяного світла несфокусованої площини та розсіяного світла за межами несфокусованої плями на площині фокусування, щоб гарантувати, що всі сигнали флуоресценції, отримані отвором детектора, надходять із фокусної позиції плями зразка, тому дифракційна сфокусована пляма на зразок і виявлення Пляма візуалізації точкових отворів містить ту саму інформацію (сполучено дві точки).
6. Фотоелектронний помножувач (детектор)
Функція: сприймати світловий сигнал, що проходить через отвір, перетворювати його в електричний сигнал і передавати на комп'ютер, щоб на екрані з'явилося чітке зображення всієї фокальної площини.
7. Лазери. Розвиток технології конфокальної мікроскопії невіддільний від швидкого розвитку лазерів. Ми можемо вибрати різні лазери відповідно до потреб дослідження. Такі як ArUV (351,364 нм), HeCd (442 нм), AR (457, 488, 514 нм), ArKr (488, 568, 647 нм), Kr (568 нм), HeNe (543 нм), HeNe (633 нм) тощо.
8. Кілька каналів флуоресценції: він має кілька каналів флуоресценції для досягнення кількох міток зразків одночасно.
