Ознайомлення з відмінностями між металографічним мікроскопом і стереомікроскопом у трьох аспектах
1. Система освітлення:
Металографічні мікроскопи, як правило, мають спеціальний шлях освітлення відбивного світла (оскільки досліджуваний зразок є непрозорим), і освітлювальне світло проходить через напіввідбиваючу лінзу, а потім випромінюється на поверхню зразка через лінзу об’єктива. Відбиваючись назад, він проходить крізь об’єктив і окуляр перед тим, як потрапити в око людини. Таким чином, об'єктив замінює збиральну лінзу в системі освітлення Колера. В принципі, цей тип освітлення належить до коаксіального освітлення, де освітлене світло та відбите світло проходять по одному основному оптичному шляху.
Стереоскопічні мікроскопи зазвичай використовують зовнішні джерела світла, включаючи бічні галогенні лампи для косого освітлення та круглі світлодіодні лампи для освітлення. Однак ці методи освітлення не є коаксіальним освітленням, а їх освітлення косе збоку, під певним кутом до головної оптичної осі. За принципом вони подібні до освітлення темного поля металографічних мікроскопів. Крім того, деякі стереомікроскопи також мають коаксіальні джерела освітлення, але коаксіальне освітлення в стереомікроскопах має певні обмеження. Невідповідний дизайн може спричинити відблиски, що вимагає додавання спеціальних аксесуарів або лінз для їх усунення.
2. Оправа мікроскопа та механізм фокусування?
Оправа металографічного мікроскопа, як правило, відносно велика, але оскільки вона використовується для високопотужного контролю, на ній можна розміщувати зразки відносно невеликих розмірів. Як правило, поверхня зразка повинна бути відносно плоскою, а також необхідні підготовка зразка, полірування та корозія. У зв'язку з цим, за винятком інвертованих металографічних мікроскопів, хоча пробопідготовка також необхідна, вона майже не має обмежень на розмір зразка. Хороший інвертований металографічний мікроскоп може помістити зразки вагою близько 10 кілограмів. Крім того, механізм фокусування вертикального металографічного мікроскопа є підйомним столиком (існують також кілька вертикальних мікроскопів і вимірювальних мікроскопів, які використовують спеціальні насадки для підйому об’єктива), тоді як механізм перевернутого металографічного фокусування є підйомним об’єктивом.
Розмір рами стереомікроскопа зазвичай невеликий, але в поєднанні з рухомою рамою великого розміру він може перевіряти зразки різних розмірів, у тому числі безпосередньо перевіряти продукти на виробничій лінії. Тому він має низькі вимоги до зразків і не потребує спеціальної пробопідготовки. Поки поверхня зразка приблизно рівна, цього достатньо. Оскільки стереоскопи відносно легкі, метод фокусування стереомікроскопів зазвичай полягає в підйомі та опусканні всього оптичного шляху хоста.
