Вступ до класифікації електронних мікроскопів передачі
1. Великий електронний мікроскоп трансмісії:
Велика електронна мікроскопія (звичайна TEM), як правило, використовує напругу прискорення електронного променя {{0}} kv, з різними моделями, що відповідають різним напругам прискорення променя електронів. Його роздільна здатність пов'язана з напругою прискорення електронів і може досягти 0. 2-0. 1nm. Високі кінцеві моделі можуть досягти роздільної здатності атомного рівня.
2. Мікроскоп електронного електронної передачі низької напруги:
Напруга прискорення електронного променя (5 кВ), що використовується при низькій напрузі електронної мікроскопії (LVEM) значно нижча, ніж у великої мікроскопії електропропускання. Нижня напруга прискорення підвищить міцність взаємодії між електронним променем та зразком, тим самим покращуючи контраст та контраст зображення, особливо придатні для зразків, таких як полімери та організми; Тим часом електронна мікроскопія передачі низького тиску завдає мінімального пошкодження зразка.
Роздільна здатність нижча, ніж у великих електронних мікроскопів, 1-2 нм. Завдяки використанню низької напруги, електронної мікроскопії передачі, скануючої електронної мікроскопії та скануючої передачі електронної мікроскопії можуть бути інтегровані на один пристрій.
3. Заморожений електронний мікроскоп передач:
Кріо -мікроскопія, як правило, передбачає додавання обладнання для заморожування зразків до регулярного електронного мікроскопа пропускання, охолодження зразка до температури рідкого азоту (77 К) та спостереження за температурою, таких як білки та біологічні зрізи. Заморожуючи зразок, пошкодження, спричинене електронним променем до зразка, може бути зменшена, деформація зразка може бути зведена до мінімуму, і можна отримати більш реалістичну морфологію зразка.
