Введення в застосування трансмісійної електронної мікроскопії (ТЕМ)
Морфологічне спостереження: за допомогою зображень з товстим контрастом (також відомих як абсорбційний контраст) можна спостерігати морфологію зразка, що може чітко представити морфологію поверхні та контур внутрішньої структури зразка, забезпечуючи інтуїтивну основу для вивчення характеристик зовнішнього вигляду матеріалу.
Фазовий аналіз: за допомогою таких методів, як дифракція електронів, дифракція електронів на мікрообластях і дифракція електронів збіжного пучка, аналізується фаза зразка. Визначаючи фазу, кристалічну систему і навіть просторову групу матеріалів, ми можемо заглибитися в кристалічну структуру та склад матеріалів, забезпечуючи теоретичну основу для прогнозування їхніх властивостей і розробки застосувань.
Визначення кристалічної структури: за допомогою електронної мікроскопії з високою {0}роздільністю можна безпосередньо спостерігати структурну проекцію атомів або атомних кластерів у певному напрямку в кристалі. Ця функція дозволяє дослідникам точно визначати кристалічну структуру, надаючи ключову інформацію для вивчення мікроструктури матеріалу, а також розробки та синтезу нових матеріалів.
Спостереження за структурними дефектами: за допомогою дифракційного контрастного зображення й електронної мікроскопії з високою-роздільністю спостерігайте за структурними дефектами, наявними в кристалі, як-от дислокації, дислокації, межі зерен тощо. Визначаючи типи дефектів і оцінюючи щільність дефектів, дослідники можуть отримати глибше розуміння зв’язку між механічними та фізичними властивостями матеріалів та їхньою мікроструктурою, забезпечуючи інструкції щодо оптимізації продуктивності матеріалу та контролю дефектів.
Аналіз хімічного складу мікрозони: використання енергодисперсійного рентгенівського -спектрометра або спектрометра втрати енергії електронів, приєднаного до ТЕМ, для аналізу хімічного складу мікрозони зразка. Цей аналітичний метод може виявити розподіл елементів і хімічний склад матеріалів на мікромасштабі, забезпечуючи сильну підтримку для досліджень корозії, окислення, легування та інших аспектів матеріалів.
Спостереження динамічних процесів на місці: за допомогою пристроїв для нагріву та деформації, підключених до ТЕМ, дослідники можуть спостерігати мікроструктурні зміни зразків під час нагрівання, деформації, руйнування та інших процесів на місці. Це-спостереження в реальному часі надає новий погляд на розуміння динамічної поведінки та механізму руйнування матеріалів, що корисно для розробки матеріалів із високою-ефективністю та високою надійністю.
У галузі дослідження наноматеріалів трансмісійна електронна мікроскопія може точно вимірювати розмір, морфологію та кристалічну структуру наночастинок. Завдяки технології обробки зображень із високою{1}}роздільністю дослідники можуть чітко спостерігати сталу ґратки та структуру атомів на поверхні наноматеріалів.
