+86-18822802390

Зв'яжіться з нами

  • Тел.: +8618822802390

  • Електронна-пошта:admin@gvda-instrument.com

  • WhatsApp: 8618822802390

  • Додати: Кімната 610-612, Huachuangda Business Building, District 46, Cuizhu Road, Xin'an Street, Bao'an, Shenzhen

Вступ до застосування електронного мікроскопа в вогнетривких матеріалах

Apr 18, 2025

Вступ до застосування електронного мікроскопа в вогнетривких матеріалах

 

Хімічний склад, мінеральний склад та мікроструктура рефрактерних матеріалів визначають їх властивості; Нові аналітичні методи хімічного складу рефрактерних матеріалів включають колориметричний метод, метод титрування органічного реагенту (складного), фотометрію полум'я, спектроскопічний аналіз, рентгенівський флуоресцентний аналіз тощо; Поляризовані мікроскопи та скануючі електронні мікроскопи є найбільш ефективним засобом аналізу мінерального складу та мікроструктури рефрактерних матеріалів. Тому високоякісні поляризовані мікроскопи та скануючі електронні мікроскопи є важливим обладнанням для виявлення, оцінки та керівних виробничих процесів у виробництві та дослідженні та розробках матеріалів.


Конкретні застосування поляризуючого мікроскопа та скануючого електронного мікроскопа в рефрактерних матеріалах:
1, дозволяйте поляризуючи мікроскоп та сканувати електронний мікроскоп для аналізу мінерального складу та мікроструктури рефрактерних матеріалів. Властивості рефрактерних матеріалів в основному включають хімічний мінеральний склад, мікроструктуру, механічні властивості, теплові властивості та високотемпературні властивості обслуговування. Рефрактерні матеріали - це гетерогенні тіла, що складаються з двох частин: твердої фази (включаючи кристалічну фазу та скляну фазу) та пор. Відносна кількість, розподіл та морфологія зв'язування між ними становлять мікроструктуру рефрактерних матеріалів. Фізичні та хімічні властивості рефрактерних матеріалів визначаються їх кристалічною фазою. Кристалічна структура визначається виробничим процесом та мінеральним складом рефрактерних матеріалів. Основна мета використання мікроскопів та скануючих електронних мікроскопів - аналіз структур кристалічної та газової фази рефрактерних матеріалів, щоб керувати виробничим процесом рефрактерних матеріалів та пропорції мінеральних добавок, врешті -решт досягнення потреб фізичних та хімічних властивостей рефрактерних матеріалів та задоволення їх застосування.


2, використовуючи поляризуючий мікроскоп та скануючий електронний мікроскоп для оцінки та аналізу рефракторії, стійкості теплового удару, розподілу пористості, корозійної стійкості до шлаків та інших властивостей рефрактерних продуктів, щоб покращити якість вогнетривких продуктів та відповідати поточним ринковим вимогам для нового покоління передових рефрактерних матеріалів.

 

4 Microscope Camera

 

 

Послати повідомлення