+86-18822802390

Зв'яжіться з нами

  • Тел.: +8618822802390

  • Електронна-пошта:admin@gvda-instrument.com

  • WhatsApp: 8618822802390

  • Додати: Кімната 610-612, Huachuangda Business Building, District 46, Cuizhu Road, Xin'an Street, Bao'an, Shenzhen

Ознайомлення з перевагами та недоліками електронних мікроскопів

Jul 05, 2025

Ознайомлення з перевагами та недоліками електронних мікроскопів

 

1. Висока роздільна здатність, роздільна здатність оптичного мікроскопа становить 0,2 мкм, а роздільна здатність трансмісійного електронного мікроскопа становить 0,2 нм, що означає, що трансмісійний електронний мікроскоп збільшує в 1000 разів на основі оптичного мікроскопа.


2. Просвічуюча електронна мікроскопія зазвичай використовується для спостереження тонких структур матеріалу, які неможливо розрізнити звичайними мікроскопами; Скануюча електронна мікроскопія в основному використовується для спостереження за морфологією твердих поверхонь, її також можна поєднувати з дифракцією рентгенівських променів або електронною спектроскопією для формування електронних мікрозондів для аналізу складу матеріалу; Емісійна електронна мікроскопія використовується для дослідження поверхонь самовипромінюючих електронів.


Недоліки:
1. В електронному мікроскопі зразки необхідно спостерігати у вакуумі, тому живі зразки не можна спостерігати. З розвитком технології скануюча електронна мікроскопія навколишнього середовища поступово досягне прямого спостереження живих зразків;


2. При обробці зразків можуть утворюватися структури, які спочатку не були присутні у зразку, що ускладнює аналіз зображення в майбутньому;


3. Завдяки сильній здатності розсіювати електрони, він схильний до вторинної дифракції та інших явищ;


4. Через те, що це дво-вимірне проекційне зображення три-вимірного об’єкта, іноді зображення не є унікальним;


5. Через те, що трансмісійна електронна мікроскопія може спостерігати лише дуже тонкі зразки, можливо, що структура поверхні матеріалу відрізняється від структури всередині матеріалу;


6. Ультратонкі зразки (нижче 100 нанометрів), процес підготовки зразків є складним і важким, і є пошкодження під час підготовки зразків;


7. Електронні промені можуть пошкодити зразки через зіткнення та нагрівання;


8. Крім того, ціни на придбання та технічне обслуговування електронних мікроскопів відносно високі.

 

2 Electronic Microscope

Послати повідомлення