Ознайомлення з основними компонентами та функціями лазерного конфокального мікроскопа
1. Функція освітлювального отвору: змусьте лазер пройти через освітлювальний отвір для формування точкового джерела світла, яке має унікальні переваги сильної спрямованості, малої розбіжності, високої яскравості, високої просторової та часової когерентності та збудження плоскої поляризації. І сформуйте конфокальний пристрій із отвором і фокальною площиною детектора.
2. Функція дільника променя: відокремте збуджену флуоресценцію зразка від іншого несигнального світла.
3. об'єктив
4. Функція фокальної площини: точкове лазерне джерело світла опромінює об’єкт для фокусування у фокальній площині та спонукає флуоресцентно позначений зразок випромінювати флуоресценцію, утворюючи фокусну пляму. Пляма обробляється серією пристроїв, таких як лінза об’єктива та розсіювач променя, і фокусується на точці освітлення та точці детектора відповідно. З цього випливає значення конфокального.
5. Функція обскури детектора: діє як просторовий фільтр. * Максимально блокуйте розсіяне світло від нефокусуючої площини та розсіяне світло від нефокусуючої плями на площині фокусування, щоб гарантувати, що всі сигнали флуоресценції, отримані точкою детектора, надходять із позиції фокусування пляма зразка, тож пляма, сфокусована дифракцією на зразку, і пляма зображення точкового отвору детектора містять однакову інформацію (дві сполучені точки).
6. Фотоелектронний помножувач (детектор) Функція: приймання оптичного сигналу, що проходить через отвір, перетворює його в електричний сигнал і передає на комп’ютер, і на екрані з’являється чітке зображення всієї фокальної площини.
7. Лазер: розвиток технології конфокальних мікроскопів невіддільний від швидкого розвитку лазерів. Ми можемо вибрати різні лазери відповідно до потреб дослідження. Такі як ARUV (351,364 нм), HECD (442 нм), AR (457 488 514 нм), ARKR (488 568 647 нм), KR (568 нм), Hene (543 nm), Hene (633 nm) і так далі. 8. Кілька каналів флуоресценції: існує кілька каналів флуоресценції для реалізації кількох міток зразків одночасно.
