+86-18822802390

Зв'яжіться з нами

  • Тел.: +8618822802390

  • Електронна-пошта:admin@gvda-instrument.com

  • WhatsApp: 8618822802390

  • Додати: Кімната 610-612, Huachuangda Business Building, District 46, Cuizhu Road, Xin'an Street, Bao'an, Shenzhen

Методи візуалізації світлого-поля та темного-поля у флуоресцентній мікроскопії

Jul 06, 2025

Методи візуалізації світлого-поля та темного-поля у флуоресцентній мікроскопії

 

(1) Метод зображення світлого поля (BFI), який дозволяє пропущеному електронному пучку лише в параксіальній області проходити через отвір об’єктива, утворюючи темне зображення на світлому фоні. Чим менша апертура апертури об'єктива, тим більший контраст зображення світлого поля; (2) Зображення в темному полі (DFI) — це техніка, яка дозволяє лише частині розсіяного променя під великим кутом або певного дифракційного променя кристала проходити через отвір об’єктива, блокуючи при цьому промінь, що пройшов. Це утворює яскраве графічне зображення на темному тлі. Цей метод зображення темного поля може покращити контрастність зображень і є важливою технікою зображення.


Існує приблизно чотири методи отримання зображень у темному полі за допомогою флуоресцентних мікроскопів Leica: (1) підтримання вертикального освітлення вздовж оптичної осі під час переміщення апертури об’єктива; (2) Використання похилого освітлення для захоплення розсіяних променів у напрямку оптичної осі називається центральним зображенням темного поля (CDFI); (3) Апертура об’єктива з центральним обмежувачем променя та круглою прозорою областю; (4) Використовуйте круглу прозору збиральну лінзу для вимірювання світла та центральну круглу апертуру для лінзи об’єктива. * Метод тут найпростіший, але він використовує електронне зображення в дистальній області рукава, тому аберація велика, а якість зображення не дуже добра. Другий метод дозволяє уникнути вищезазначених недоліків, але апертура об’єктива флуоресцентного мікроскопа Leica отримує лише невелику частину розсіяних дифрагованих електронів, що призводить до нижчої ефективності. Сторона діафрагми часто піддається сильному електронному бомбардуванню, що може легко спричинити асиметричне забруднення та вплинути на якість зображення. Кільцеподібну лінзу об’єктива було вдосконалено в цьому аспекті, але недоліком є ​​те, що її важко виготовити та важко досягти повної осьової симетрії. Враховуючи відносно пом’якшені вимоги до системи освітлення, можна прийняти останнє рішення, яке передбачає додавання кільцевого отвору в конденсорі для забезпечення освітлення зразка порожнистим променем. Дія цього приладу. Його роздільна здатність зображення може бути близькою до роздільної здатності зображень зі світлим полем, тоді як контрастність значно покращена.

 

3 Continuous Amplification Magnifier -

Послати повідомлення