Метод освітлення для спостереження частинок за допомогою темного поля
Ультрамікроскопічні частинки можна спостерігати за допомогою методу темного поля. Так звані ультрамікроскопічні частинки відносяться до тих крихітних частинок, які менші за межу роздільної здатності мікроскопа. Принцип освітлення темного поля такий: не дозволяйте основному світлу освітлення потрапляти в лінзу об’єктива, і лише світло, розсіяне частинками, може потрапити в лінзу об’єктива для зображення.
Тому на темному фоні дається зображення яскравих частинок. Хоча фон поля зору темний, контраст (контраст) дуже хороший, що може покращити роздільну здатність.
Освітлення темного поля можна розділити на одностороннє і двостороннє
(1) Одностороннє освітлення темного поля На малюнку 8 представлено схематичну діаграму одностороннього освітлення темного поля. На малюнку видно, що після того, як світло, випромінюване опромінювачем 2, відбивається непрозорим аркушем зразка 1, основне світло не потрапляє в лінзу 3 об’єктива, а світло, що потрапляє в лінзу об’єктива, в основному розсіюється частинками або нерівномірно. деталі. Очевидно, що це одностороннє освітлення темного поля ефективне для спостереження за існуванням і рухом частинок, але воно не ефективне для відтворення деталей об’єктів, тобто виникає явище «спотворення».
(2) Двостороннє освітлення темного поля Двостороннє освітлення темного поля може усунути дефект спотворення, викликаний одностороннім освітленням. Перед звичайним конденсором із трьох лінз розмістіть кільцеву діафрагму, як показано на малюнку 9, щоб реалізувати двостороннє освітлення темного поля. Рідина занурюється між останнім шматком конденсора та склом об’єктива, поки простір між покривним склом та лінзою об’єктива залишається сухим. Тому кільцеподібний промінь, що проходить через конденсор, повністю відбивається в покривному склі й не може потрапити в лінзу об’єктива, утворюючи петлю, як показано на малюнку. Лише світло, розсіяне частинками на зразку, потрапляє в лінзу об’єктива, утворюючи двостороннє темне поле.
