Як працюють спектроскопічні люксметри
Спектральний вимірювач освітленості - це вимірювальний прилад, який розраховує параметри освітленості та кольоровості шляхом вимірювання розподілу спектральної потужності у видимій області спектра вимірюваного джерела світла. Цей тип приладу широко використовується в різних областях вимірювання польового освітлення, а також може використовуватися для дослідження та розробки джерел світла та якості виробничих ліній. моніторинг тощо
1. Принцип роботи
Світло, введене людиною, проходить через спектроскопічну систему так, що світло різних довжин хвиль розподіляється та відображається на матричному фотодетекторі, так що пікселі матричного детектора формують відповідне співвідношення з довжиною хвилі, а інформація про спектральну інтенсивність в ефективній діапазон можна отримати через схему зчитування сигналу. Основні типи фотодетекторів включають: пристрій із зарядовим зв’язком (CCD), комплементарний металооксидний напівпровідниковий пристрій (CMOS), пристрій фотодіодної матриці (PDA) тощо. На додаток до використання матричних фотодетекторів до спектроскопічної системи також можна додати вихідні щілини, і інформацію про спектральний розподіл потужності можна отримати за допомогою нематричних фотодетекторів у поєднанні зі спектральним скануванням. Схема зчитування сигналу надсилає вихідну інформацію про спектральний розподіл потужності до мікропроцесора, і після спектральної корекції, обчислення освітленості та кольоровості тощо остаточно відображаються результати вимірювань, такі як освітленість, кольоровість і спектральні криві.
Оптична система падіння може включати такі компоненти, як коректори косинуса, оптичні волокна, інтегруючі сфери та необхідні лінзи. Спектроскопічна система, як правило, розділяє світло на основі гратчастих пристроїв, а решітки включають решітки відбиття та решітки пропускання.
2. Екологічні умови
1. Температура: (23±5) градусів;
2. Відносна вологість: не більше 85 відсотків;
3. Лабораторія має бути темною кімнатою, у якій не повинно бути сильної вібрації чи сильного електромагнітного поля.
3. Вимірювальні характеристики
1. Відносна похибка індикації освітленості: ±4.0 відсотків;
2. Загальна похибка направленого відгуку: менше або дорівнює 4.0 відсоткам;
3. Нелінійність: менше або дорівнює 1.0 відсотку;
4. Похибка індикації довжини хвилі: ±1 нм;
5. Коефіцієнт розсіяного світла: менше або дорівнює 1.0 відсотку;
6. За умови стандартного джерела світла CIE A похибка індикації кольоровості (x, y): ±0.003; за поєднання стандартного джерела світла CIE A та стандартної кольорової пластини пропускання, похибка індикації кольоровості (x, y): ±0,04.
