Відмінності між металографічним мікроскопом і стереомікроскопом
Стійка звукової карти та організація масштабування
1. Корпус звукової карти металографічного мікроскопа зазвичай дуже великий, але оскільки металографічні мікроскопи використовуються для тестування з великим збільшенням, вони можуть вмістити зразки із загалом малими характеристиками. Як правило, вимагається, щоб поверхня зразка була відносно плоскою, а зразок повинен бути підготовлений, відшліфований, полірований і підданий корозії. На додаток до інвертованих металографічних мікроскопів, хоча зразки також повинні бути підготовлені, майже немає обмежень щодо характеристик зразка. Хороший інвертований металографічний мікроскоп може вмістити більше 10 кг зразків. Крім того, структура масштабування вертикального металографічного мікроскопа використовується для налаштування приладу для вимірювання кута (є також кілька вертикальних оптичних мікроскопів і вимірювальних мікроскопів, які використовують унікальні аксесуари для налаштування лінзи об’єктива), а також використовується структура інвертованого металографічного масштабування для налаштування об’єктива
2. Технічні характеристики стійки звукової карти стереомікроскопа, як правило, невеликі, але якщо вони переміщуються з великою ємністю в координації, вони можуть перевіряти зразки різних розмірів, включаючи продукти, які негайно перевіряються на виробничій лінії. Тому вони мають дуже низькі вимоги до зразків і не вимагають професійної підготовки проб. Для підготовки зразка потрібна лише приблизно рівна поверхня. Через відносно невелику вагу дзеркала заднього виду метод масштабування стереомікроскопа зазвичай передбачає налаштування всіх серверів оптичного шляху.
Збільшити збільшення
1. Збільшення лінзи об’єктива металографічного мікроскопа вище 1,25 разів і менше 100 разів, тоді як збільшення лінзи окуляра становить від 10 до 20 разів. Тому загальне збільшення металографічного мікроскопа становить від 12,5 до 2000 разів.
2. Різниця у збільшенні стереомікроскопів досить велика. Якщо це стереомікроскоп загального виявлення, збільшення зазвичай становить від 0,5 до 100 разів. Якщо це науково-дослідний оптичний мікроскоп, покращуючи якість електронної оптики, збільшення збільшення також збільшиться приблизно до 200-400 разів.
Системне програмне забезпечення шляхів освітлення
1. Металографічні мікроскопи зазвичай використовують професійний шлях освітлення заломленого світла (оскільки досліджуваний зразок не є повністю прозорим), а освітлювальне світло спрямовується через напіввідбиваючу подвійну лінзу для освітлення поверхні зразка через лінзу об’єктива. Після повернення поверхні, що відбиває, вона проходить через окуляр об’єктива, а потім потрапляє в око людини для тривимірного зображення. Таким чином, об’єктив замінює функцію прожектора в програмному забезпеченні системи освітлення Jiumu. З точки зору основного принципу, цей тип освітлення належить до коаксіального освітлення, де і освітлююче світло, і заломлене світло знаходяться на тому самому основному оптичному шляху.
2. Стереоскопічні мікроскопи зазвичай використовують зовнішні джерела світла, такі як галогенні фари збоку для розсіяного освітлення та круглі світлодіодні ліхтарі для освітлення. Однак ці методи освітлення не є коаксіальним освітленням. Світло їх освітлення розсіюється збоку і має певний кут перетину з головною оптичною віссю. Основний принцип дещо подібний до освітлення темного поля металографічних мікроскопів. Крім того, деякі стереомікроскопи також мають коаксіальні джерела освітлення, але коаксіальне освітлення дзеркал заднього виду має певні обмеження. Якщо схема дизайну є нерозумною, це спричинить відблиски, які необхідно усунути, додавши унікальні аксесуари або окулярні лінзи
