Коротке впровадження функцій мікроскопа зондового зонду
Мікроскоп зонду Scanning (SPM) є загальним терміном для скануючого тунельного мікроскопа та різних нових мікроскопів зондів, розроблених на основі скануючого тунельного мікроскопа (наприклад, мікроскопія атомної сили (AFM), лазерної мікроскопії). Це інструмент для аналізу поверхні, розроблений на міжнародному рівні за останні роки. Це високотехнологічний продукт, який інтегрує світло, машину та електроенергію шляхом всебічного застосування сучасних наукових та технологічних досягнень, таких як оптоелектронна технологія, лазерна технологія, слабка технологія виявлення сигналів, точна механічна конструкція та обробка, технологія автоматичного управління, технологія цифрової обробки сигналів, застосована оптична технологія, високошвидкісне змагання з комп'ютерів та контроль та висококваліфікована технологія графічної обробки. Цей новий тип мікроскопічного інструменту має значні переваги порівняно з попередніми мікроскопами та аналітичними інструментами:
1. SPM має надзвичайно високу роздільну здатність. Він може легко «побачити» атоми, які для звичайних мікроскопів або навіть електронних мікроскопів важко досягти.
2. SPM отримує зображення з високою роздільною здатністю поверхні зразка, які справді показують атоми. На відміну від деяких аналітичних інструментів, які обчислюють структуру поверхні зразка за допомогою непрямих або обчислювальних методів.
3. Навколишнє середовище використання SPM розслаблене. Електронні мікроскопи та інші інструменти мають суворі вимоги до робочого середовища, а зразки повинні бути розміщені в умовах високих вакууму для тестування. SPM може працювати у вакуумі, а також в атмосфері, низькій температурі, кімнатній температурі, високій температурі і навіть у розчинах. Тому SPM підходить для наукових експериментів у різних робочих умовах.
