+86-18822802390

Зв'яжіться з нами

  • Тел.: +8618822802390

  • Електронна-пошта:admin@gvda-instrument.com

  • WhatsApp: 8618822802390

  • Додати: Кімната 610-612, Huachuangda Business Building, District 46, Cuizhu Road, Xin'an Street, Bao'an, Shenzhen

Структура системи атомно-силової мікроскопії (АСМ).

Jul 05, 2024

Структура системи атомно-силової мікроскопії (АСМ).

 

1. Розділ виявлення сили:
У системі атомно-силової мікроскопії (АСМ) силою, яку потрібно виявити, є сила Ван-дер-Ваальса між атомами. Отже, у цій системі кантилевер використовується для виявлення змін сили між атомами. Цей мікрокантилевер має певні специфікації, такі як довжина, ширина, коефіцієнт еластичності та форма кінчика голки, і вибір цих специфікацій базується на характеристиках зразка та різних режимах роботи, а також вибираються різні типи зондів.


2 Секція визначення положення:
У системі атомно-силової мікроскопії (АСМ), коли відбувається взаємодія між кінчиком голки та зразком, кантилевер коливається. Тому, коли лазер опромінюється на кінці кантилевера, положення відбитого світла також змінюватиметься через коливання кантилевера, що призводить до генерації зсуву. У всій системі лазерний точковий детектор позиції використовується для реєстрації зсуву та перетворення його в електричний сигнал для обробки сигналу контролером SPM.


3 Система зворотного зв'язку:
У системі атомно-силового мікроскопа (АСМ) після того, як сигнал приймається лазерним детектором, він використовується як сигнал зворотного зв’язку в системі зворотного зв’язку як внутрішній сигнал налаштування та приводить в рух сканер, зазвичай виготовлений із п’єзоелектричних керамічних трубок. належним чином підтримувати відповідну силу між зразком і кінчиком голки.


Атомно-силова мікроскопія (АСМ) поєднує три вищезазначені частини, щоб представити характеристики поверхні зразка: у системі АСМ крихітний кантилевер використовується для визначення взаємодії між кінчиком голки та зразком. Ця сила змусить кантилевер коливатися, а потім використовується лазер для опромінення кінця кантилевера. Коли формується коливання, положення відбитого світла змінюється, викликаючи зміщення. У цей час лазерний детектор зафіксує це зміщення, а також надасть сигнал системі зворотного зв’язку, щоб полегшити відповідне налаштування системи. Нарешті, характеристики поверхні зразка будуть представлені у вигляді зображення.

 

2 Electronic Microscope

 

 

Послати повідомлення