Застосування металографічних мікроскопів у різних галузях промисловості
Вперше воно було виведено з металографії. Його основне призначення - спостереження за металографічною структурою професійного інструменту. Це мікроскоп, який спеціально використовується для спостереження за металографічною структурою непрозорих об’єктів, таких як метали та мінерали. Ці непрозорі об’єкти неможливо спостерігати в звичайних мікроскопах, що проходять, тому головна відмінність між металографією та звичайними мікроскопами полягає в тому, що перший використовує відбите світло, а другий – прохідне світло для освітлення.
Металографічний мікроскоп має такі характеристики, як хороша стабільність, чітке зображення, висока роздільна здатність, велике та плоске поле зору. Він може не тільки робити мікроскопічні спостереження в окулярі, але й спостерігати в режимі реального часу динамічні зображення на екрані комп’ютера (цифрової камери), а також редагувати, зберігати та друкувати необхідні зображення. Він в основному використовується в апаратному забезпеченні, нарізці та компонентах IC. , LCD/LED та інші поля.
Тому що існує п’ять типів лінз для металографічних мікроскопів: флуоресцентні світлого поля EPI; BD зі світлим полем; Надвелика робоча дистанція SLWD; Збільшена робоча відстань ELWD; і з коригуючими кільцями. У апаратній промисловості є деякі апаратні частини, які сильно відбивають світло, тому ви можете вибрати об’єктив BD зі світлим і темним полем для спостереження. Для іншого прикладу, у індустрії РК-дисплеїв, під час спостереження та вимірювання електропровідних частинок, металографічний мікроскоп також може бути оснащений DIC, який може зробити об’єкт більш тривимірним. Оскільки він поляризований, набір із двох кольорових фільтрів утворює технологію поляризованого мікроскопічного спостереження. Відповідно до характеристики подвійного променезаломлення напрямок шляху світла змінюється. Звичайно, поляризоване світло можна використовувати тільки з DIC, і воно безглуздо. Металургійні мікроскопи використовуються для вимірювання та аналізу крихітних розмірів, таких як компоненти IC і металографічні зрізи. Для вимірювання можна використовувати інтелектуальне програмне забезпечення Iview-DIMS, яке є високоточним і ефективно зменшує людські помилки вимірювання. Простий у вивченні та використанні, він може легко вимірювати та аналізувати точки, лінії, дуги, напівмеридіани, прямі меридіани, кути та інші пов’язані розміри, легко робити вимірювальні зображення та налаштовувати різноманітні звіти про випробування.
