Застосування аналізатора мікроскопічного зображення в металографічному аналізі
Вимірювання розміру зерна є частиною перевірки, яка часто виконується в металографічних роботах. Традиційний метод полягає у зверненні до стандартних зображень у відповідних стандартах (GB6394-2002) і оцінці рівня розміру зерна шляхом порівняння зі стандартними зображеннями. Цей метод простий і швидкий, але суб'єктивна похибка також відносно велика. Якщо ви використовуєте інші два методи, зазначені в GB6394, а саме метод площі та метод точки перехоплення (метод арбітражу), хоча можна отримати точні результати вимірювань, ці два методи дуже незручні у використанні, і вони викликають страх. Якщо для вимірювання розміру зерна за допомогою методу точки перехоплення використовується аналізатор зображення, рівень розміру зерна можна визначити безпосередньо та швидко.
Метод точки перехоплення визначає розмір зерна шляхом підрахунку перетинів меж зерна на вимірювальній сітці заданої довжини. Формула розрахунку гранулометричного показника G має вигляд:
G＝-3.2877＋6.6439lg(M×N／L)
У формулі: L - довжина використовуваної вимірювальної сітки (мм)
М - збільшення для спостереження
N - кількість точок перехоплення на вимірювальній сітці L
L і M — відомі числа. Поки N вимірюється, аналізатор зображення може отримати рівень розміру зерна. Під час фактичної вимірювальної роботи через різні виділення, які можуть існувати всередині зерен, і розриви меж зерен, спричинені неправильним контролем корозії, це створює певні труднощі для точного вимірювання. Для видалення зерен необхідно використовувати функції корозії та розширення в аналізаторі зображень. Осади всередині та межі зерен реконструюються для отримання повного зображення зерна.
Кількісне вимірювання таких параметрів, як відсоток мікроструктури в металевих матеріалах, і вивчення їх впливу на механічні властивості є одним із основних застосувань аналізаторів зображень у металографічному аналізі. Наприклад: Визначити відсотковий вміст фериту та перліту в сірому чавуні, ковкому чавуні, ливарній сталі та низьковуглецевій сталі; процентний вміст мартенситу і фериту в двофазної сталі; науглерожування та загартування загартованого шару та кульки обериту Залишковий вміст аустеніту в чавуні; евтектичний вміст фосфору в гальмівних колодках з високим вмістом фосфору; вміст евтектичного кремнію в литих алюмінієвих сплавах, вміст бета-фази в білому сплаві втулки підшипника тощо. Ці завдання легко вирішити за допомогою основних функцій аналізатора зображень. Якщо провести кількісний металографічний аналіз на різних матричних структурах певного матеріалу та порівняти його з його механічними властивостями, можна глибоко вивчити кількісну відповідність між мікроструктурою та механічними властивостями.
Внаслідок шорсткості поверхні основного матеріалу під покриттям або впливу процесу гальванічного покриття покриття має нерівномірну товщину. Щоб усунути помилку вимірювання, спричинену нерівномірною товщиною, коли аналізатор зображення вимірює покриття, він спочатку відображає форму поперечного перерізу покриття. Намалюйте багато прямих ліній, паралельних одна одній, перпендикулярно до поверхні покриття та поперек покриття на екрані, щоб кожна пряма лінія могла виміряти дані про товщину покриття, а потім обробіть ці дані, щоб отримати середню товщину та максимальну товщину покриття. покриття. , мінімальна товщина та інші параметри. Якщо вимірюваний об’єкт є дуже маленьким металевим дротом із покриттям по колу, візьміть зображення його поперечного перерізу та проведіть багато прямих ліній уздовж радіального напрямку під різними кутами від його центру, і його також можна виміряти.
Визначте глибину обезуглероженного шару і науглецьованого шару
Спочатку виміряйте вміст фериту в структурі матриці, а потім намалюйте на екрані рухому пряму лінію, паралельну поверхні. Обчисліть вміст фериту, що проходить через пряму. Коли пряма лінія рухається до центру, коли визначається вміст фериту в структурі матриці. Коли вміст твердої речовини відповідає площі, відстань між прямою лінією та поверхнею є глибиною обезуглероженного шару або навуглецьованого шару.
