Застосування металографічного мікроскопа в різних галузях промисловості
Металографічний мікроскоп вперше був похідним від металографії, і його головною метою є спостереження за професійним інструментом металографічної структури. Це мікроскоп, який спеціально використовується для спостереження металографічної структури непрозорих об’єктів, таких як метали та мінерали. Ці непрозорі об’єкти неможливо спостерігати у звичайних мікроскопах, що пропускають світло, тому основна відмінність між металографією та звичайними мікроскопами полягає в тому, що перший освітлюється відбитим світлом, а другий – прохідним світлом.
Металографічна мікроскопія має такі характеристики, як хороша стабільність, чітке зображення, висока роздільна здатність і велике та плоске поле зору. Він може не тільки виконувати мікроскопічні спостереження в окулярі, але й спостерігати динамічні зображення в реальному часі на екрані комп’ютера (цифрової камери), а також може редагувати, зберігати та друкувати необхідні зображення. Він в основному використовується в таких сферах, як апаратне забезпечення, нарізка, компоненти IC, LCD/LED тощо.
Оскільки існує п’ять типів лінз для металографічних мікроскопів: світлопольова флуоресценція EPI; BD світлі та темні поля; SLWD надвелика робоча відстань; ELWD збільшує робочу відстань; З коригуючим кільцем. У апаратній промисловості деякі апаратні компоненти із сильним відбиттям можна спостерігати за допомогою світло- та темнопольних об’єктивів BD. Наприклад, у індустрії РК-дисплеїв під час спостереження та вимірювання електропровідних частинок металографічний мікроскоп також може бути оснащений DIC, щоб зробити об’єкт більш тривимірним. Оскільки він оснащений поляризованим світлом, два набори кольорових фільтрів утворюють мікроскопічну техніку спостереження поляризованого світла, яка змінює напрямок оптичного шляху на основі характеристики подвійного променезаломлення. Звичайно, поляризоване світло можна використовувати лише разом із DIC і не має жодного значення окремо. Металографічна мікроскопія використовується для вимірювання та аналізу малих розмірів, таких як компоненти IC та металографічні зрізи. Інтелектуальне програмне забезпечення Iview-DIMS можна використовувати для вимірювання з високою точністю та ефективним зменшенням людських помилок вимірювання. Простий у вивченні та використанні, він може легко вимірювати та аналізувати відповідні розміри, такі як точки, лінії, дуги, напівмеридіани, прямі меридіани, кути тощо. Легко знімати вимірювання та налаштовувати різні звіти про випробування
